Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов

• Качественный фазовый анализ.
• Количественный фазовый анализ.
• Анализ микро- и макронапряжений.
• Анализ дефектов упаковки в ГЦК кристаллах.
• Прецизионное определение параметров кристаллической решётки.
• Анализ тонких покрытий и пленок методом скользящего пучка.

Физико-технический институт НАН Беларуси. Телефоны: 017-237-06-13; 8-029-664-65-56 (Анисович Анна Геннадиевна).