Металлографический анализ структуры материалов:
светлое поле, темное поле, поляризованный свет, дифференциально-интерференционный контраст.
Сплавы цветных и черных металлов; керамика, оксидные системы; композиты; стекла, эмали, покрытия; порошковые, гранулированные, аморфные, органические материалы.
Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов
- Качественный фазовый анализ.
- Количественный фазовый анализ.
- Анализ микро- и макронапряжений.
- Анализ дефектов упаковки в ГЦК кристаллах.
- Прецизионное определение параметров кристаллической решётки.
- Анализ тонких покрытий и пленок методом скользящего пучка.
Физико-технический институт НАН Беларуси. Телефоны: 017-237-06-13; 8-029-664-65-56 (Анисович Анна Геннадиевна).