Метод прицельной металлографии не представлен в интернете как-либо подробно. В принципе он прост. В его основе лежит фиксация изменений выбранного участка структуры после какого-либо внешнего воздействия. Этот метод используется в классическом металловедении в том случае, если надо проиллюстрировать, например, движение высокоугловой границы или зарождение новых зерен на участке микроструктуры.
Способы освещения поверхности образца
В основе принципа микроскопических исследований (в прикладном понимании, конечно) лежит ответ на вопрос: как взаимодействует видимый свет с поверхностью исследуемого материала? Как использовать это взаимодействие, как его зарегистрировать и как истолковать?
Структуру образца можно различить лишь тогда, когда различные его участки по-разному отражают, преломляют или пропускают свет. Эти свойства обусловливают разницу амплитуд и фаз световых волн, отразившихся от различных участков поверхности, от чего, в свою очередь, зависит контрастность изображения. Поэтому методы наблюдения в микроскопии выбираются (и обеспечиваются конструктивно) в зависимости от характера и свойств изучаемых объектов. Объекты исследования в металлографии зачастую являются настолько сложными в структурном отношении, что бывает трудно заранее определить, какая методика анализа (способ освещения) является оптимальной. Даже квалифицированный исследователь зачастую вынужден пробовать различные способы освещения и фильтры для получения наилучшего изображения структуры. Поэтому важно показать видоизменение изображения структуры материала при использовании светлого поля, темного поля, поляризованного света, и т.д. чтобы продемонстрировать возможности анализа.
Исходя из нашего опыта применения различных методик, наиболее информативными в исследовании материалов являются темное и светлое поле. Методы анализа на основе поляризованного света применяются несколько реже, но и им находится достойное место.
Металлография - часть металловедения, изучающая влияние химического состава и обработки (термической, химико-термической, давлением и пр.) на структуру металлов и сплавов.
При способе освещения, рассмотреном в статье "Темнопольная микроскопия", применяется обыкновенный свет, в котором колебания совершаются во всех направлениях в плоскости, перпендикулярной направлению распространения света (рис.1,а).
Исследования структуры металлов и сплавов в металлографии проводятся преимущественно по методу «светлого поля», в основе которого лежит принцип отражения пучка световых лучей от поверхности полированного образца (шлифа). Этот метод является достаточным для решения большинства металловедческих задач. Тем не менее, при использовании светлопольного освещения не всегда возможно получить контрастное изображение. Это может быть связано как с трудностями в подборе состава травящего реактива, так и с наличием специфической морфологии поверхности образца.
Задача повышения контраста изображения может быть решена, в том числе, при использовании цветового анализа структуры.